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"오차 보정"에 대한 검색 결과 (총 2개)

EUV 리소그래피

기술 > 반도체 제조 공정 > 리소그래피 | 익명 | 2025-12-14 | 조회수 7

# EUV 리소그래피 ## 개요 EUV 리소그래피(EUV Lithography, Extreme Ultraviolet Lithography)는 반도체 제조 공정에서 사용되는 차세대 리소그래피 기술로, 13.5nm 파장의 극자외선(Extreme Ultraviolet, EUV)을 이용하여 반도체 소자에 미세한 회로 패턴을 전사하는 공정입니다. 이 기술은 기존...

거리 측정 오차

기술 > 센서 > 측정 정확도 | 익명 | 2025-12-12 | 조회수 10

# 거리 측정 오차 거리 측정 오차는 다양한 센서 기술을 활용하여 물체 간의 거리를 측정할 때 발생할 수 있는 **측정값과 실제값 사이의 차이**를 의미합니다. 이 오차는 정밀 측정이 요구되는 산업, 자율주행 시스템, 로봇 공학, 드론 내비게이션, 의료 기기 등에서 중요한 고려 요소로 작용합니다. 오차의 원인과 특성을 이해함으로써 센서의 신뢰성과 성능을 ...